產品型號：

廠商性質：經銷商

所在地：深圳市

訪問量：722

更新(xin)時間(jian)：2021-05-17

產品簡介：

優質供應chroma58212-C LED芯片電測系統 

主要特色：

• 高速及高精度
• 支援水平型，垂直型和倒裝型芯片
• 完整LED電性測試範圍（200V/2A）
• 可支援到8英寸晶圓
• Chroma大面積光偵測器
• 強大的芯片位置掃描算法
• 外部光屏蔽設計
• 完整的分析工具和統計報告

優質供應chroma58212-C LED芯片電測系統 

測試項目

• 電源特性量測 :
  - Forward Voltage Measurement (Vf )
  - Reverse Breakdown Voltage Measurement(Vrb)
  - Reverse Leakage Current (Ir)
  - SCR Detection
• 光特性量測 :
  - Optical Power (mw, lm, mcd)
  - Dominant Wavelength (Wd)
  - Peak Wavelength (Wp)
  - Full Width at Half Maximum (FWHM)
  - CIExy - CCT - CRI

硬體設備

• 自動化 LED wafer/chip 點測設備
• 電性測試模組
• 光學測試模組
• 選配ESD 測試模組

致(zhi)茂(mao)58212-C是一(yi)臺(tai)自(zi)動化的LED外(wai)延片(pian)/芯片(pian)探 針測(ce)試(shi)設備，提供快速、準確(que)的LED測(ce)量測(ce)且(qie)整 體量測(ce)時間＜125ms *1。

系統(tong)的(de)(de)設計(ji)採用(yong)了(le)靈活的(de)(de)設計(ji)為不同(tong)類型(xing)的(de)(de)LED 結構包括橫向(xiang)型(xing)，垂直型(xing)和倒裝(zhuang)芯片類型(xing)。用(yong)戶 可(ke)(ke)以選擇合適的(de)(de)結構類型(xing)LED測(ce)量。完整掃(sao)描程 序可(ke)(ke)提供獨立(li)的(de)(de)晶圓圖以保證測(ce)試的(de)(de)精度。專(zhuan)利 的(de)(de)探針(zhen)頭可(ke)(ke)防止待測(ce)物的(de)(de)刮傷並確保每一個LED 接觸。

透過(guo)致茂獨特的光學設計與元件可(ke)取得精確且穩 定快速之光學數據如主(zhu)波長、峰波長、色溫等(deng)， 該系統具(ju)備完整之電(dian)(dian)性(xing)量(liang)測(ce)單元，無論順向電(dian)(dian) 壓、漏電(dian)(dian)流、逆向崩潰電(dian)(dian)壓等(deng) LED 電(dian)(dian)性(xing)特性(xing)， 均可(ke)於一(yi)次滿(man)足使用者的測(ce)試需求。

58212-C包含彈性調整的軟(ruan)體操作(zuo)界面及(ji)(ji)先進(jin)的 邏(luo)輯演算法使得生產效益大幅(fu)提(ti)升(sheng) ；完(wan)善(shan)的統計 報表及(ji)(ji)分析工(gong)具可以讓使用者用輕鬆掌(zhang)握生產狀(zhuang) 況。

Note *1: 測(ce)(ce)試(shi)條件(jian)：在間(jian)距(ju)300um、5道電(dian)性(xing)測(ce)(ce) 項、1道光學測(ce)(ce)項條件(jian)下取樣。由於LED的(de)特性(xing)的(de) 差異，測(ce)(ce)量結果可能會有所不同。